X-VIEW
3D PAN CEPH

Esta avanzada versión del X-VIEW, es un sistema CBCT tres-en-uno de gran desarrollo tecnológico que integra las imágenes panorámicas y volumétricas con análisis cefalométricos.

Esta versión viene dotada con la función CEPH compuesta por el brazo y un detector de panel plano basado en la tecnología CR, con lector de imagen incluido, para obtener en un tiempo inferior a 2 segundos,  imágenes cefalométricas de alta resolución en formato 24 x 30 cm, usando la exclusiva tecnología single shot.

El sensor CMOS flat-panel con área activa de 13 x 13 cms,   resolución de 100 micrón y capacidad de captura de 300 imágenes/segundo crea un banco de imágenes aptas para la construcción volumétrica de modelos con FOV de diámetro 8,5 x altura 8,5 cm en solo 10 segundos,   o panorámicas  bidimensionales de formato 13 x 30 cm.